

半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì),比如金屬陶瓷、電子半導(dǎo)體芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有很好的成像效果。













半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì),比如金屬陶瓷、電子半導(dǎo)體芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有很好的成像效果。








