鋁箔厚度測量儀 硅片厚度測試儀 硅片測厚儀

金屬鍍層測厚儀是一種用于精確測量金屬鍍層厚度的儀器，它對于鍍鋁膜、真空鍍膜、鍍鋁紙等材料的質(zhì)量控制具有重要意義。該儀器采用電阻法作為檢測原理，通過測量電阻值的變化來推算金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層測厚儀主要由測量探頭、測量電路和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)三部分組成。測量探頭通過與被測樣品表面接觸來獲取電阻值，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)通常包括一對電極和測量線路，用于測量樣品的電阻值。測量電路則將探頭測得的電阻值轉(zhuǎn)化為可讀的數(shù)據(jù)，并將其傳輸?shù)綌?shù)據(jù)處理系統(tǒng)進行處理。

在測量鍍鋁膜、真空鍍膜和鍍鋁紙等材料時，金屬鍍層測厚儀能夠?qū)ζ浔砻婧偷讓拥碾娮柚颠M行精確測量。由于不同金屬材料的電阻率不同，因此可以通過測量電阻值的變化來推算金屬鍍層的厚度。具體來說，金屬鍍層測厚儀會根據(jù)樣品的電阻值變化來計算出金屬鍍層的厚度，并將結(jié)果以數(shù)字或圖表的形式顯示出來。

金屬鍍層測厚儀具有高精度、高分辨率和高靈敏度的優(yōu)點，能夠準確地測量出金屬鍍層的厚度，從而為生產(chǎn)廠家提供可靠的質(zhì)量保證。同時，該儀器還具有操作簡單、使用方便的特點，能夠滿足工業(yè)生產(chǎn)中對快速、簡便測量的需求。

金屬鍍層測厚儀的優(yōu)點還包括其非破壞性測量方式，即不會對被測樣品造成損害。這使得生產(chǎn)廠家可以在生產(chǎn)過程中進行在線測量，及時發(fā)現(xiàn)并解決問題，大大提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。此外，金屬鍍層測厚儀還可以通過計算機接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享和遠程控制，提高了測量的自動化程度和便捷性。

金屬鍍層測厚儀是一種高精度、高分辨率、高靈敏度的儀器，采用電阻法檢測原理，能夠準確地測量出鍍鋁膜、真空鍍膜、鍍鋁紙等材料金屬鍍層的厚度。它具有操作簡單、使用方便和非破壞性測量等優(yōu)點，適用于工業(yè)生產(chǎn)中的在線測量，能夠提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

厚度測量范圍                   厚度50-570Å               

方塊電阻測量范圍               0.5-5Ω               

方塊電阻測量誤差               ±1%               

樣品尺寸                       100×100mm               

夾樣精度                       ±0.1mm               

測溫范圍                       0～50℃，精度±1℃               

外形尺寸                       370mm×330mm×450mm （長寬高）               

重    量                       19kg               

工作溫度                       23℃±2℃                

相對濕度                       80%,無凝露               

工作電源                       220V 50Hz