ATR附件 測試時：使樣品與ATR晶體的反射面嚴密接觸

原理：

ATR附件基于光內反射原理而設計。從光源發出的紅外光經過折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上，當入射角大于臨界角時，入射光線就會產生全反射。事實上紅外光并不是全部被反射回來，而是穿透到試樣表面內一定深度后再返回表面。在該過程中，試樣在入射光頻率區域內有選擇吸收，反射光強度發生減弱，產生與透射吸收相類似的譜圖，從而獲得樣品表層化學成份的結構信息。

適用范圍：

常規的透射光譜可用壓片或液體池法進行測量，但是對于某些特殊樣品，難熔、難溶及難粉碎的試樣（如塑料聚合物、橡膠等），透射光譜存在制樣困難的問題。衰減全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）紅外附件可以解決這些問題。它具有制樣簡單、無破壞性、檢測靈敏度高、對樣品大小及含水量無特殊要求、測量區域小等特點。

ATR法操作步驟如下：

1）將樣品直接放置于ATR附件的晶體和頂針之間，較平整的一面貼上ATR晶體上。

2）擰緊手扭至旋空，，即可進行樣品測試。再經過傅立葉紅外變換紅外光譜儀測試，從而獲得樣品的光譜圖，再根據紅外圖譜的特征峰進行定性分析。

注意事項：

1. 樣品要柔軟平整, 也可用來測試常規液體和固體粉末樣品。

2. 使樣品與ATR晶體的反射面嚴密接觸，提高接觸效率，是獲得高質量ATR譜圖。

3. ZnSe晶體適用PH范圍：5-9

4. 測試完成后，一定要用無水乙醇將ATR的壓頭及其他附件等都要擦拭干凈，并保持樣品倉清潔干凈。