設(shè)備特點：
1. 使用先進的背散射成像技術(shù)：
背散射技術(shù)是指使用低能量X射線照射被檢物體一點，探測器收集散射回的射線獲知此點的信息。X射線機通過飛點掃描系統(tǒng)，使射線投射點掃描整個物體，從而得到整個物體的圖像。
背散射檢測因為X光機和探測器布置在同一側(cè)，因此設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，布置方便，可以檢測靠墻或較厚物體，彌補了普通透射式X射線檢測的缺陷。
2. 集成度高，操作簡單，單人即可操作：
設(shè)備檢測和控制部分一體化設(shè)計。控制部分為8寸平板電腦，使用時打開軟件圖像采集功能，手持設(shè)備對準需要檢測的物體，雙手握緊把手，并按下把手上采集按鈕即可工作。
擁有雙激光定位功能，方便快速確定掃描位置。單人即可完成所有檢測工作。顯示屏也可以取下作為控制用平板電腦單獨使用。
操作時，操作人員即可在平板電腦上看到儀器正對區(qū)域內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。手持設(shè)備對需要檢測的區(qū)域進行掃描，就可即時看到掃描圖像。可在任意方向和角度對物體檢測，無檢測死角和盲區(qū)。
3. 圖像質(zhì)量好,可輕松分辨有機物無機物：
因X射線散射特點，背散射技術(shù)天然對炸藥、毒品等有機物敏感，可清晰分辨有機物和無機物。我公司產(chǎn)品在發(fā)揚這一優(yōu)勢的同時，憑借雄厚的技術(shù)實力，優(yōu)化設(shè)備結(jié)構(gòu)，在控制設(shè)備體積的前提下，使圖像效果達到世界先進水平，可分辨0.32mm金屬絲，噪點控制優(yōu)秀。
圖像質(zhì)量明顯優(yōu)于國外同類產(chǎn)品，信噪比高于國外同類產(chǎn)品100多倍
4. 探測面積大，性能優(yōu)越，做工優(yōu)良
設(shè)備探測面積大，距離物體5cm時，視野寬度160mm，長度方向為掃描方向，無距離限制，掃描速度可達30cm/s，如設(shè)備拉遠與被檢物品距離，可進一步擴大探測面積。設(shè)備總重量約5.8kg，方便手持。ABS工程塑料外殼，結(jié)構(gòu)堅固，做工優(yōu)良。
5. 輻射劑量低,續(xù)航時間長：采用低能量射線機，且X線覆蓋范圍為極小的掃描點，因此輻射劑量極低，僅比環(huán)境本底輻射略高，適合長時間手持使用。
