光學(xué)膜片軸向測量儀是一款全自動測量偏光片和偏光膜吸收軸（透過軸）角度的儀器。

光學(xué)膜片光軸測量儀采用偏振光光電探測技術(shù)對透過材料的偏振光進行高精度采集測量，從而計算出偏振材料主軸相對機械坐標(biāo)的夾角，用于指導(dǎo)生產(chǎn)出符合客戶要求角度的偏振材料。對于傳統(tǒng)偏振材料的裁切，其需求角度和裁切角度通常會有一定的偏差，有時會達到0.5°、1°甚至更大，導(dǎo)致后續(xù)產(chǎn)品的加工中造成品質(zhì)差異。因為偏振材料不同軸角度的組合會帶來輸出光強的不一致，客戶直觀體驗出現(xiàn)明顯差異。而吸收軸測量儀目前階段只能針對偏振片進行測量，如補償膜、離型膜就無法進行檢測。光學(xué)膜片光軸測量儀通過雙偏振模組機構(gòu)，實現(xiàn)了一臺設(shè)備的綜合測量；全自動檢測，為產(chǎn)品的品質(zhì)保障提供有力的數(shù)據(jù)支撐。

測試時采用手動放置偏光片和其他光學(xué)膜的方式，可對偏光片和其他光學(xué)膜吸收軸角度（透過軸角度）進行單次測量和多次連續(xù)測量，并實時顯示測量結(jié)果。配置電腦可保存大量測試數(shù)據(jù)，具備數(shù)據(jù)查詢，光軸角度分布分析、數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出等功能。

設(shè)備優(yōu)勢：

采用高精度進口電機，具備極高的角度分辨率，可有效保證測量精度；

測量時樣品載具自動定位，減少人為干擾因素，重復(fù)定位精度高；


預(yù)先選定測量類型，其中偏振膜與其他薄膜測量算法不同

 
主要技術(shù)參數(shù)：

檢測原理：偏振光光電探測技術(shù)                                               

偏光板測量范圍：0-180°；

離型膜測量范圍：0-90°；

補償膜測量范圍：0-90°；

精度/標(biāo)準(zhǔn)偏差： 約±0.05°

分辨率： 約為0.02°

視野范圍：φ30mm

構(gòu)成： 臺式電腦 （含測量軟件一套）、電纜線等             

光源：LED 632.8nm；